簡(jiǎn)要描述:SS900LN全光譜透過(guò)率測(cè)試是一套全波長(zhǎng)的0度角光譜透過(guò)率檢測(cè)儀,能快速準(zhǔn)確的測(cè)量各類平面光學(xué)元件的透過(guò)率,可用于實(shí)時(shí)在線檢測(cè),產(chǎn)品全檢分選。
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品牌 | 雙色云譜 | 產(chǎn)地 | 國(guó)產(chǎn) |
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加工定制 | 是 |
SS900LN全光譜透過(guò)率測(cè)試
SS900LN是一套全波長(zhǎng)的0度角光譜透過(guò)率檢測(cè)儀,能快速準(zhǔn)確的測(cè)量各類平面光學(xué)元件的透過(guò)率,可用于實(shí)時(shí)在線檢測(cè),產(chǎn)品全檢分選,適合于:棱鏡、鍍膜鏡、膠合鏡、平行平板、太陽(yáng)膜、濾光片、紅外透過(guò)率、紫外透過(guò)率、各類材料透過(guò)率檢測(cè)
主要測(cè)試參數(shù):透過(guò)率、紫外透過(guò)率(<400nm)、藍(lán)光透過(guò)率(400-500nm)、綠光透過(guò)率(500-600nm)、紅光透過(guò)率(600-700nm)、紅外(>700nm)、自定義透過(guò)率(380-1000nm)等參數(shù)。
SS900LN全光譜透過(guò)率測(cè)試
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